Новости




В соответствии с Планом проведения научно-практических конференций и семинаров государственных судебных экспертов федеральных бюджетных судебно-экспертных учреждений Министерства юстиции Российской Федерации на 2023 год на базе ФБУ РФЦСЭ при Минюсте России (далее – РФЦСЭ) в очном формате в период с 13 по 15 февраля проведен семинар «Практические аспекты реализации метода рентгеноспектрального анализа с помощью сканирующего микроскопа (СЭМ PCMA) в судебно-экспертной деятельности».
В его работе приняли участие сотрудники судебно-экспертных учреждений, где используется рассматриваемый метод: СЭУ Минюста России, Российского центра судебно-медицинской экспертизы Министерства здравоохранения Российской Федерации, Центрального экспертно-криминалистического таможенного управления, Федеральной службы безопасности Российской Федерации, Экспертно-криминалистического центра России, Экспертно-криминалистического центра ГУ МВД по г. Москве.
С приветственным словом перед участниками семинара выступил заместитель директора РФЦСЭ, доктор юридических наук, профессор Георгий Георгиевич Омельянюк, модератором являлся ведущий эксперт отдела материалов, веществ и изделий РФЦСЭ Илья Борисович Афанасьев.
Цель семинара состояла в обсуждении особенностей применения метода рентгеноспектрального анализа с помощью сканирующего микроскопа, его функциональных возможностей для повышения качества судебных экспертиз и формирования единого научно-методического подхода в судебно-экспертной деятельности.
В ходе мероприятия состоялся широкий обмен мнениями по различным аспектам использования СЭМ РСМА при исследовании объектов судебной экспертизы: режиму работы, получению и интерпретации результатов, пробоподготовке, функциям интерфейса микроскопа, его настройке и системам микроанализа, работе в автоматическом режиме. Приглашенные специалисты компании Oxford Nanoanalysis и ООО «Тескан» презентовали участникам возможности сканирующего микроскопа.
Цели и задачи семинара выполнены в полном объеме. В итоговой резолюции к семинару выдвинуто предложение о проведении подобных мероприятий не реже одного раза в два года.